FA/JUMPER新型連接器測試解決方案
維度科技在多芯極性插回損儀的基礎上升級迭代，為客戶提供一站式的FA/JUMPER測試解決方案，兼顧不同分支數、不同角度的FA器件測試，快速測試IL、RL、極性，提高生產檢驗的效率。
方案概述
FA/JUMPER器件隨著光模塊的發展也迎來了新的市場需求；與傳統連接器不同，FA/JUMPER器件尾端的晶體端面不能直接進行物理對接，
并且器件的長度也普遍較短，因此在插入損耗、回波損耗測試上存在漏光、回損測試不準等問題，同時也不能用常規的極性檢測儀測試光纖極性。
為此維度科技在多芯極性插回損儀的基礎上升級迭代，為客戶提供一站式的FA/JUMPER測試解決方案，兼顧不同分支數、不同角度的FA器件測試，
快速測試IL、RL、極性，提高生產檢驗的效率。
主要優勢
· 支持單模、多模FA器件測試
· 波長可定制，如1270,1490,1625nm等
· 一站式測試IL、RL、極性，無需兩端對接
· FA特定回損模式，鎖定測距更準確
· 專利設計視覺檢測極性
· 豐富的FA夾具、接口，輕松替換
· 探測接口可外置，適配多分支FA或Z-BLOCK器件
· 可在已有極性插回損儀升級，低成本迭代
· 可定制阿基米德積分球，測試2000+芯數FA
主要應用
· MT-FA器件
· JUMPER
· Z-BLOCK連接器
· 光模塊內部微型連接
方案特點
· 功能豐富可自定義的軟件，支持數據庫
· 可測試Tx端IL、ISO隔離度，Rx端IL、RL
· 全平臺架構，可集成維度端檢、干涉儀檢測
豐富的接口設計，穩定夾持，多維光機件精密微調
傳統插回損儀在測試FA器件時往往存在接口不適配，對接不緊密導致漏光或偏離角度造成插損測試數值不準確的問題。
維度科技提供夾具+接口的設計方式，便于用戶快速操作，能夠夾持穩定，并且不劃傷端面，減少誤差。
為了適配一些較寬的FA器件或是多分支端口同時接入測試的情況，插回損儀積分球的接口進行了適配升級，入光口徑>10mm并在接口邊緣進行了防漏光設計。
在MT-FA測試需求下，維度科技提供多維度調節的光機平臺幫助用戶實現多端同時測試。該光機組件預留足夠的調節維度數，若需要更換被測件時，
只需手動調校到新被測件合適的位置和角度即可。
一步檢測插入損耗、回波損耗、極性，解決FA極性痛點
FA/JUMPER器件由于無法直接對接極性測試儀的MPO接口，導致TOSA/ROSA陣列的極性測試方法失效。維度科技首發專利提出的視覺檢測極性方案能夠有效解決這一痛點，并且內置于插回損儀內部，用戶只需要一步操作接入被測件，就可以檢測FA/JUMPER器件的IL、RL、極性。
該測試方案能夠實現自動測試IL、RL、極性，用戶如測試大芯數光纖陣列器件（如2000+芯數以上），也可以通過大容量積分收光實現測試。
對于多分支FA器件，軟件可智能整理極性順序，并統一生成報告。
針對FA/JUMPER連接器回損優化測試
免纏繞式回損儀由于其OTDR（光時域反射）原理在測試超短連接器時如不做特殊處理則存在盲區。而纏繞式回損儀在采用OCWR時如不用匹配膏清除末端FA反射光強，同樣也無法測試MT-FA器件的Rx端MT的回損。維度科技針對FA的特定使用場景優化了OTDR的查找算法，使Rx端的MT回損能被檢測。
基于維度科技的多芯極性插回損儀優化后的算法測試，在接入匹配膏后，MT端回損測試結果如下，測試結果穩定，數值準確。
同一器件MT-FA重復測試10次，插回損均值、方差結果如下：
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