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光通信器件生產與制造 助您實現優質光纖連接和可靠的數據傳輸!

保偏器件測試

偏光纖器件在干涉儀、陀螺儀、光纖傳感等領域有廣泛的應用,對器件的測試是生產過程中的重要環節。DIMENSION深耕檢測技術領域,推出一站式測試解決方案,包括穩定光源、高速光功率計、可編程偏振控制器等設備,滿足客戶的不同需求,提供長時間穩定性測試系統,提高生產效率。

方案介紹
方案優勢
相關產品

偏光纖器件在干涉儀、陀螺儀、光纖傳感等領域有廣泛的應用,對器件的測試是生產過程中的重要環節。

DIMENSION深耕檢測技術領域,推出一站式測試解決方案,包括穩定光源、高速光功率計、可編程偏振控制器等設備,滿足客戶的不同需求,提供長時間穩定性測試系統,提高生產效率。



穩定光源

維度科技為滿足客戶不同領域的需求開發了系列穩定光源產品,所有功能模塊具有統一的設計架構,易拓展,兼容ALPHA、OMEGA通用光學測試平臺。
穩定光源產品可分為4大種類,即:DFB激光器光源、FP激光器光源、SLED光源、超窄線寬光源。
? 1、2、4路光輸出可選且每個通道可獨立控制,波長和功率可以按照客戶的需求進行定制,是光通訊測試領域的最佳選擇。
? 支持USB、網絡、按鍵等多種控制方式。
? 產品采用模塊化設計,專利定制接口,精度和可靠性高,SC/FC可靈活切換、可拆卸,方便后期維護。


主要優勢
系列化多種方案可選
高信噪比和邊模抑制比
波長精度高
輸出功率高
高精度
全波段


偏振控制器

PPC可編程控制器是維度科技集偏振控制功能和擾偏功能于一體的儀器,是光無源測試系統的重要測試儀器。
擾偏功能:基于高速光電材料作為相位控制器,三個板分別以不同角度為導向,將任何偏振輸入狀態轉換為隨機偏振狀態,高速覆蓋Poincare球體最后輸出一個穩定的圓偏振光。具有插入損耗低,擾動頻率高等優秀的性能。其繞偏頻率最高可達5MHz。
偏振控制功能:通過控制信號實現不同偏振態光輸出,同時可以通過軟件控制進行偏振態掃描。并配合維度科技的高速光功率計同步采樣,可以對光器件的偏振相關性進行高速自動化測試,其最高掃描速度支持10kHz。

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主要優勢
擾偏與偏振控制雙功能
高速擾偏功能(MAX=5MHz)
偏振控制范圍:每通道0-4π
高速偏振態掃描(10kHz)
串口指令控制


高速光功率計

當光功率高速變化時,準確快速捕捉到光功率值,對于光功率計是一個極大地挑戰。傳統光功率計無法滿足高速準確的測量需求時,為此高速光功率計應運而生。傳統光功率計為了測量數值的準確性和大動態范圍的需求,在功率值積分上和量程切換上都占用了大量的時間,所以不能快速而準確地輸出有效的光功率值,因此它無法滿足高速自動化測試系統及高速監控系統等場景的應用需求。

維度科技高速光功率計系列模塊在原理設計和器件選擇上即確保了高速功率輸出又滿足高速下大動態范圍的需求。它具有批量采集工作模式和觸發采集模式,最高可提供10KHz的高速連續采集,動態范圍可達+10dBm~-70dBm,并且配置了1000萬個測量數據的儲存深度(每通道,配合可調諧光源產品,為無源器件(DWDM,AWG,WSS等器件)的快速掃描測試提供了一種高效率、高性能的測試解決方案。

主要優勢

高速模式下支持光功率探測范圍:+10dBm~-70dBm
支持850nm~1650nm波長范圍內任意波長設置
單模塊可提供1、2或者4路光功率探測統
連續功率刷新頻率最高可達10KHz(全量程)
高速模式下支持自動換檔采集測量
每通道可以存儲高達1000萬個功率值
支持多種觸發采集模式

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插回損測試

Dimension通過全新的設計和技術,提供全系列插損回損解決方案。其中針對MPO推出多通道極性插回損,能夠快速完成極性、插損與回損三合一的檢測,不僅提升檢測效率并且能夠不免多次對接帶入的損傷風險;雙通道極性插回損系列,能夠檢測雙通道極性、插損和回損三項測試數據,提高檢測效率;單通道插回損儀等一些列產品,能夠快速準確的測量,是提高生產效率和品質管控的有效工具

主要優勢:

適應全場景下的光無源器件插回損檢測;
測試速度快、測量范圍廣、測試精度高;
滿足單芯、雙聯、多芯光纖和單、多模測試需求;
基于FreeDesign平臺的模塊化設計,是目前業界系列最全的插回損測試解決方案,
并持續迭代新的衍生產品如可靠性測試插回損測試系統、多芯極性插回損測試儀等。

插回損.png


端面缺陷的檢測

使用高放大倍數的光學顯微鏡,Dimension擁有一些列端面缺陷檢測方案,檢測方式分為兩種:通過人工觀察器件端面的圖像,可以觀察端面的質量、缺陷、劃痕或其他問題。這是最簡單、直觀的方法,但有一定局限性,受操作人員的責任心及經驗影響。通過智能化分析,使用自動化算法進行圖像處理和分析,能夠高效地檢測器件端面劃痕或缺陷等問題。可以提供更準確的檢測結果,利于分析管控質量,不受人員操作的因素影響,并節省人工檢查的時間和成本。

應用場景的角度分為兩種:生產制造過程中,適合應用臺式,穩固可靠便;應用現場,適合便攜式,方便攜帶,操作簡便,針對各種端口類型有豐富的,接口類型。

光無源-端面檢測.jpg



三維形貌檢測

維度科技在光纖端面3D檢測領域,是開創者,也是引領者,已形成系列化產品。數年來專注研發干涉儀光學系統及結構設計,優秀的光學系統能夠提供圖像清晰度,使3D圖像還原更加真實準確,為數據計算的穩定性、準確性提供了可靠性,結構設計出全新、強健的防震系統,抗震性能提高,確保數據的穩定性。端面三維形貌檢測解決方案包括:MT Pro單多芯一體干涉儀、FUTURE自動光纖端面5D干涉儀、SANA2、BINNA2自動光纖端面干涉儀、SANA MINI光纖端面干涉儀系列產品,JumperRun光纖連接器一站式測試儀,能滿足各種類型的連接器檢測,如SC, FC, ST, LC, MU, E2000?, MTP?/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, 裸插芯、裸光纖等。

主要優勢:
干涉儀系列化產品行業領先
支持行業內各種連接器檢測
數據準確穩定性高
全自動應用簡便
支持數據庫傳輸

光無源-環形器-三維形貌測量.jpg


非接觸式清潔系統:Offsoon Pro光纖端面清洗機,配置高精密過濾系統,采用的是液體+氣體的清潔原理,快速溶解光纖端面上的污漬,噴射的無塵氣體將清潔液與油污漬一起吹走,整個清潔過程只需2秒,單次清潔效率高達98%以上。

主要優勢:

? 單次清潔效率高達98%
? 非接觸式,保護光端面
? 支持單、多芯光器件端面清潔
? 可應用于自動化清潔和檢測系統

清潔方案.jpg



光功率檢測和光損耗測試:使用高速光功率計或衰減器檢測器件端面的輸出功率和衰減情況。通過與理論值或標準值進行比較,可以評估端面的質量,判斷是否需要清潔。高速光功率計系列模塊在原理設計和器件選擇上即確保了高速功率輸出又滿足高速下大動態范圍的需求。


POA多模單模可編程光衰減器,可以同時提供多通道高精度的光路衰減,可靈活編程設定自動或者隨機衰減值,具有衰減精度高、波長范圍廣、衰減范圍大、轉換速度快、重復性和線性度好等出色的性能。

主要特性

多模環通量控制,多種光源檢驗標定
大衰減范圍(MM>55dB,SM>40dB)
更低的插入損耗,衰減速率提升200%
超高的衰減準確性和重復性
內置功率監控,三種控制模式

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