掃描速度100nm/s
高信噪比和邊模抑制比
全波段無跳模
C+L波段或O波段可選

產品概述
可調諧光源是光通信領域中無源、有源器件進行波長相關測試的必要儀器,能夠精確快速地調整合適的波長以滿足測試需求,搭配高采樣速率的功率計可以高效地采集器件的功率-波長曲線,測試器件在不同波長下的性能參數。
TopLight可調諧光源是維度科技集成了十六年來的光學測試領域的專業經驗開發的首款可調諧光源,具有波長精度高,掃描速度快,輸出功率穩定性高,全波段無跳模的特點。產品集成度高,體積小巧,操控靈活,搭配維度科技公司的高速功率計和偏振控制器可以匹配波分復用器件的全部測試需求。主要優勢
波長精度±20pm
掃描速度100nm/s
高信噪比和邊模抑制比
全波段無跳模
C+L波段或O波段可選
主要應用
WDM掃描測試
光無源系統測試
波長相關性測試
特定波長輸出
光譜學
超高的波長精度、重復性和穩定性,輸出功率穩定
TopLight可調諧光源通過精密的機電控制保證光源的波長精度能夠達到±20pm,即便是在高速掃描的過程中波長的重復性和穩定性也依然可靠。在不同的測試環境下,TopLight也能夠針對環境變化進行補償,保證波長精度穩定可靠。
光源的輸出功率對于波長相關性進行了嚴格的擬合,保證功率曲線的平坦度高于0.2dB/nm,減少功率對于測試系統所帶來的誤差。

輸出光譜信噪比、邊模抑制比高
TopLight采用外腔諧振的原理調諧波長,通過精密的光學、機電控制系統保證諧振腔輸出的窄線寬激光始終具備良好的信噪比和邊模抑制比,為進行嚴密的波長掃描系統提供了優秀的測試環境和條件。

全波段內實現均勻無跳模,保證波長曲線連續
維度科技專業的光機電算整合能力為可調諧光源的模式控制提供了可靠保障,通過精密的控制和算法,TopLight可以在保證超高掃描速度、波長精度的前
提下,確認激光始終輸出主模波長占據主導,掃描時無需波長校準件即可完成測試。

搭配波長掃描系統實現光器件掃描測試

維度科技自主開發的波長掃描系統搭載TopLight可調諧光源和高速功率計,波長精度可達±5pm,并實現100nm/s的快速掃描,為波長相關性器件提供了
高效精確的測試解決方案。基于多年的設計經驗,維度科技提供了人機交互性好的系統軟件,讓用戶清晰簡單地完成波長掃描測試,用戶只需要輕點測試
按鈕,就能獲取詳細的測試報告。并且,由于平臺+模塊化的設計架構,維度科技的設備在需求變動時具有極高的靈活性,只需要增減或替換模塊即可升級
成新的測試環境,為用戶節省了大量的時間和經濟成本。

多可選擇波長范圍,覆蓋多種器件應用場景

性能參數
| 類別 | 參數 | TLS可調諧光源 | ||
| 波長特性 | 波長可調諧范圍 | 1260nm~1360nm/1525nm-1630nm | ||
| 波長分辨率 | 0.1pm | |||
| 波長穩定性 | ±5pm | |||
| 波長精度 | 絕對精度 | ±20pm | ||
| 絕對精度 | 步進掃描 | 土10pm | ||
| 重復性 | ±5pm | |||
| 絕對精度 | 連續掃描@100nm/s | ±20pm | ||
| 重復性 | ±10pm | |||
| 最高掃描速度 | 200nm/s | |||
| 輸出功率特性 | 輸出功率 | 峰值 | +13dBm | |
| >10dBm范圍 | 1260nm-1360nm/1525nm-1630nm | |||
| 全波長調諧范圍 | +13~-15dBm | |||
| 穩定性 | 土0.01dB | |||
| 重復性 | 步進掃描 | ±0.01dB | ||
| 平坦度 | 土0.2dB | |||
| 重復性 | 連續掃描@100nm/s | ±0.01dB | ||
| 平坦度 | 土0.2dB | |||
| 相對強度噪聲(RIN)(典型值) | 145dB/Hz(1MHz to 3 GHz) | |||
| 光譜特性 | 線寬 | 200KHz | ||
| SMSR | 60dB | |||
| SINR | 70dB | |||
訂購信息

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